Описан новый поляризационно-оптического микроскоп, в схеме
которого в контакте с объектом помещен слой жидкого кристалла, что
позволило визуализировать распределение невидимых физических полей
на поверхности изучаемого объекта. Разработана теория визуализации
дефектов микрорельефа, структурных дефектов, а также неоднородных
электрических и магнитных полей. Приведены результаты
экспериментальных исследований с помощью микроскопа объектов
материаловедения, медицины и биологии. Разработанные методы изучения
поверхности обладают новизной, универсальностью, уникальностью,
экспрессивностью, высокой чувствительностью, разрешающей
способностью и не требуют разработки нового оборудования.